 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN 50446-1995 |  на печать | | Материалы для полупроводниковой технологии. Определение типов и плотности дефектов в эпитаксиальных слоях кремния |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN 50446-1995 | | Заглавие на русском языке | Материалы для полупроводниковой технологии. Определение типов и плотности дефектов в эпитаксиальных слоях кремния | | Заглавие на английском языке | Testing of materials for semiconductor technology - Determination of defect types and defect densities of silicon epitaxial layers | | Дата опубликования | 01.09.1995 | | МКС | 29.045 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | DIN 50446(1992-11) | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 10 | | Перекрестные ссылки | DIN 50433-1(1976-12)*DIN 50434(1986-02)*DIN 50436(1976-10)*DIN 50441-2(1982-04)*DIN 50443-1(1988-07)*DIN 50454-1(1991-11)*ASTM F 47(1987)*ASTM F 80a(1988)*ASTM F 154(1984)*ASTM F 522(1984)*ASTM F 523(1983)*ASTM F 815(1983)*ASTM F 928(1986)*ASTM F 1049(1987) | | Код цены | Preisgruppe 8 | |
| | Стандарт DIN 50446-1995 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|