 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN EN 60749-5-2018 |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 5. Температурные испытания на долговечность с изменением параметров влажности |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN EN 60749-5-2018 | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 5. Температурные испытания на долговечность с изменением параметров влажности | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 60749-5:2017); German version EN 60749-5:2017 | | Дата опубликования | 01.01.2018 | | МКС | 31.080.01 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | DIN EN 60749-5(2003-09)*DIN EN 60749-5(2016-12) | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 11 | | Перекрестные ссылки | IEC 60749-4(2017-03) | | Код цены | Preisgruppe 11 | |
| | Стандарт DIN EN 60749-5-2018 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|