| Обозначение | DIN EN 60749-5-2018 |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 5. Температурные испытания на долговечность с изменением параметров влажности |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 60749-5:2017); German version EN 60749-5:2017 |
| Дата опубликования | 01.01.2018 |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | DIN EN 60749-5(2003-09)*DIN EN 60749-5(2016-12) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 11 |
| Перекрестные ссылки | IEC 60749-4(2017-03) |
| Код цены | Preisgruppe 11 |
 |