 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
OVE EN 60749-43:2020 01 01 |  на печать | | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans (IEC 60749-43:2017) (english version) |
|
| | Библиография | Обозначение | OVE EN 60749-43:2020 01 01 | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans (IEC 60749-43:2017) (english version) | | Код МКС | 31.080.01 | | Дата опубликования | 01.01.2020 | | Язык оригинала | английский | |
| | Стандарт OVE EN 60749-43:2020 01 01 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На английском языке |
0,00
|
|
|
|