OVE EN 60749-43:2020 01 01 | Электронный магазин стандартов

OVE EN 60749-43:2020 01 01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans (IEC 60749-43:2017) (english version)

	На английском языке
	Заказать перевод

Библиография

Обозначение	OVE EN 60749-43:2020 01 01
Заглавие на английском языке	Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans (IEC 60749-43:2017) (english version)
Код МКС	31.080.01
Дата опубликования	01.01.2020
Язык оригинала	английский

ОКС \ ЭЛЕКТРОНИКА \ Полупроводниковые приборы * Полупроводниковые материалы см. 29.045 \ Полупроводниковые приборы в целом \