 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 60749-30(2020) | на печать | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 30. Предварительная обработка негерметичных компонентов с поверхностным монтажом перед испытаниями на надежность |
|
|  | Библиография Обозначение | IEC 60749-30(2020) | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 30. Предварительная обработка негерметичных компонентов с поверхностным монтажом перед испытаниями на надежность | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing | МКС | 31.080.01 | Вид стандарта | ST | Обозначение заменяемого(ых) | IEC 60749-30(2005) | Дата опубликования | 17.08.2020 | Язык оригинала | английский;французский | Количество страниц оригинала | 26 | ТК – разработчик стандарта | TC 47 | Номер издания | 2.0 | Статус | Действует | Код цены | D |  |
|  | Стандарт IEC 60749-30(2020) входит в рубрики классификатора:
| |
|  |
|
 |
 |
Цены |
На языке оригинала |
14976,00
|
|
|