Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6573498.aspx

IEC 60749-30(2020)

Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 30. Предварительная обработка негерметичных компонентов с поверхностным монтажом перед испытаниями на надежность

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеIEC 60749-30(2020)
Заглавие на русском языкеПриборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 30. Предварительная обработка негерметичных компонентов с поверхностным монтажом перед испытаниями на надежность
Заглавие на английском языкеSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
МКС31.080.01
Вид стандартаST
Обозначение заменяемого(ых) IEC 60749-30(2005)
Дата опубликования17.08.2020
Язык оригиналаанглийский;французский
Количество страниц оригинала26
ТК – разработчик стандарта TC 47
Номер издания2.0
СтатусДействует
Код ценыD

Стандарт IEC 60749-30(2020) входит в рубрики классификатора: