|
|
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
KS C IEC 62047-8(2020 Confirm) | на печать | Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films |
|
| | Библиография Обозначение | KS C IEC 62047-8(2020 Confirm) | Международный стандарт | IEC 62047-8:2011(IDT) | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films | Дата опубликования | 2015.12.30 | Код МКС | 31.080.99 | |
| | Стандарт KS C IEC 62047-8(2020 Confirm) входит в рубрики классификатора:
| |
| |
|
|
|
Цены |
На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|