KS C IEC 62047-8(2020 Confirm) | Электронный магазин стандартов

KS C IEC 62047-8(2020 Confirm)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films

	На языке оригинала
	Заказать перевод

Библиография

Обозначение	KS C IEC 62047-8(2020 Confirm)
Международный стандарт	IEC 62047-8:2011(IDT)
Заглавие на английском языке	Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films
Дата опубликования	2015.12.30
Код МКС	31.080.99

ОКС \ ЭЛЕКТРОНИКА \ Полупроводниковые приборы * Полупроводниковые материалы см. 29.045 \ Полупроводниковые приборы прочие \