|
|
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
KS C IEC 60748-11-1(2020 Confirm) | на печать | Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 11 - 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits |
|
| | Библиография Обозначение | KS C IEC 60748-11-1(2020 Confirm) | Международный стандарт | IEC 60748-11-1:1992(IDT) | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 11 - 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits | Дата опубликования | 2004.08.13 | Код МКС | 31.200 | |
| | Стандарт KS C IEC 60748-11-1(2020 Confirm) входит в рубрики классификатора:
| |
| |
|
|
|
Цены |
На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|