KS C IEC 60748-11-1(2020 Confirm) | | | Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 11 - 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits |
|
|
 |
Библиография | Обозначение | KS C IEC 60748-11-1(2020 Confirm) | | Международный стандарт | IEC 60748-11-1:1992(IDT) | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 11 - 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits | | Дата опубликования | 2004.08.13 | | Код МКС | 31.200 | |
|
|
Стандарт KS C IEC 60748-11-1(2020 Confirm) входит в рубрики классификатора:
| | |
|