 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
KS D ISO 16413 | на печать | Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry - Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting |
|
|  | Библиография Обозначение | KS D ISO 16413 | Международный стандарт | ISO 16413:2020(IDT) | Заглавие на английском языке | Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry - Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting | Дата опубликования | 2021.07.16 | Код МКС | 35.240.70,71.040.40 |  |
|  | Стандарт KS D ISO 16413 входит в рубрики классификатора:
| | | |
|  |
|
 |
 |
Цены |
На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|