|
|
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
KS D ISO 16413 | на печать | Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry - Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting |
|
| | Библиография Обозначение | KS D ISO 16413 | Международный стандарт | ISO 16413:2020(IDT) | Заглавие на английском языке | Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry - Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting | Дата опубликования | 2021.07.16 | Код МКС | 35.240.70,71.040.40 | |
| | Стандарт KS D ISO 16413 входит в рубрики классификатора:
| | | |
| |
|
|
|
Цены |
На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|