 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
KS C IEC 60749-9 | на печать | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking |
|
|  | Библиография Обозначение | KS C IEC 60749-9 | Международный стандарт | IEC 60749-9:2017(IDT) | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking | Дата опубликования | 2020.12.31 | Код МКС | 31.080.01 |  |
|  | Стандарт KS C IEC 60749-9 входит в рубрики классификатора:
| |
|  |
|
 |
 |
Цены |
На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|