KS C IEC 60749-9
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking
На языке оригинала
Заказать перевод
Библиография
Обозначение
KS C IEC 60749-9
Международный стандарт
IEC 60749-9:2017(IDT)
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking
Дата опубликования
2020.12.31
Код МКС
31.080.01
Стандарт KS C IEC 60749-9 входит в рубрики классификатора:
ОКС \ ЭЛЕКТРОНИКА \ Полупроводниковые приборы * Полупроводниковые материалы см. 29.045 \ Полупроводниковые приборы в целом \
Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6873627.aspx