 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
KS C IEC 60747-5-3 | на печать | Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-3: Optoelectronic devices - Measuring methods |
|
|  | Библиография Обозначение | KS C IEC 60747-5-3 | Международный стандарт | IEC 60747-5-3:1997+AMD1:2002 CSV(IDT) | Заглавие на английском языке | Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-3: Optoelectronic devices - Measuring methods | Дата опубликования | 2020.12.24 | Код МКС | 31.080.99 |  |
|  | Стандарт KS C IEC 60747-5-3 входит в рубрики классификатора:
| |
|  |
|
 |
 |
Цены |
На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|