KS C IEC 60747-5-3 | Электронный магазин стандартов

KS C IEC 60747-5-3
Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-3: Optoelectronic devices - Measuring methods

	На языке оригинала
	Заказать перевод

Библиография

Обозначение	KS C IEC 60747-5-3
Международный стандарт	IEC 60747-5-3:1997+AMD1:2002 CSV(IDT)
Заглавие на английском языке	Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-3: Optoelectronic devices - Measuring methods
Дата опубликования	2020.12.24
Код МКС	31.080.99

ОКС \ ЭЛЕКТРОНИКА \ Полупроводниковые приборы * Полупроводниковые материалы см. 29.045 \ Полупроводниковые приборы прочие \