|
|
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 63287-2(2023) | на печать | Приборы полупроводниковые. Руководство по планам оценки надежности полупроводниковых приборов. Часть 2. Концепция профиля миссии |
|
| | Библиография Обозначение | IEC 63287-2(2023) | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Руководство по планам оценки надежности полупроводниковых приборов. Часть 2. Концепция профиля миссии | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 2: Concept of mission profile | МКС | 31.080.01 | Вид стандарта | ST | Дата опубликования | 29.03.2023 | Язык оригинала | английский;французский | Количество страниц оригинала | 30 | ТК – разработчик стандарта | TC 47 | Номер издания | 1.0 | Статус | Действует | Код цены | D | |
| | Стандарт IEC 63287-2(2023) входит в рубрики классификатора:
| |
| |
|
|
|
Цены |
На языке оригинала |
13920,00
|
|
|