| Обозначение | IEC 63287-2(2023) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Руководство по планам оценки надежности полупроводниковых приборов. Часть 2. Концепция профиля миссии |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 2: Concept of mission profile |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Дата опубликования | 29.03.2023 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 30 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Действует |
| Код цены | D |
 |