![](/i/imgs/sp.gif) |
![](/i/imgs/search.gif) |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
KS C 0256(2022 Confirm) | на печать | Testing method of resistivity for silicon crystals and silicon wafers with four - point probe |
|
| ![](/i/imgs/sp.gif) | Библиография Обозначение | KS C 0256(2022 Confirm) | Заглавие на английском языке | Testing method of resistivity for silicon crystals and silicon wafers with four - point probe | Дата опубликования | 2002.05.29 | Код МКС | 17.220.01 | ![](/i/imgs/sp.gif) |
| ![](/i/imgs/sp.gif) | Стандарт KS C 0256(2022 Confirm) входит в рубрики классификатора:
| |
| ![](/i/imgs/sp.gif) |
|
![](/i/imgs/sp.gif) |
![](/i/imgs/sp.gif) |
Цены |
На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|