KS C 0256(2022 Confirm)
Testing method of resistivity for silicon crystals and silicon wafers with four - point probe
На языке оригинала
Заказать перевод
Библиография
Обозначение
KS C 0256(2022 Confirm)
Заглавие на английском языке
Testing method of resistivity for silicon crystals and silicon wafers with four - point probe
Дата опубликования
2002.05.29
Код МКС
17.220.01
Стандарт KS C 0256(2022 Confirm) входит в рубрики классификатора:
ОКС \ МЕТРОЛОГИЯ И ИЗМЕРЕНИЯ. ФИЗИЧЕСКИЕ ЯВЛЕНИЯ \ Электричество. Магнетизм. Электрические и магнитные измерения \ Электричество. Магнетизм. Общие аспекты * Включая электромагнетизм \
Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/7424229.aspx