 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
KS C IEC 62951-1 | на печать | Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 1: Bending test method for conductive thin films on flexible substrates |
|
|  | Библиография Обозначение | KS C IEC 62951-1 | Международный стандарт | IEC 62951-1:2017(IDT) | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 1: Bending test method for conductive thin films on flexible substrates | Дата опубликования | 2022.11.22 | Код МКС | 31.080.99 |  |
|  | Стандарт KS C IEC 62951-1 входит в рубрики классификатора:
| |
|  |
|
 |
 |
Цены |
На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|