KS C IEC 62951-1 | Электронный магазин стандартов

KS C IEC 62951-1
Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 1: Bending test method for conductive thin films on flexible substrates

	На языке оригинала
	Заказать перевод

Библиография

Обозначение	KS C IEC 62951-1
Международный стандарт	IEC 62951-1:2017(IDT)
Заглавие на английском языке	Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 1: Bending test method for conductive thin films on flexible substrates
Дата опубликования	2022.11.22
Код МКС	31.080.99

ОКС \ ЭЛЕКТРОНИКА \ Полупроводниковые приборы * Полупроводниковые материалы см. 29.045 \ Полупроводниковые приборы прочие \