 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
| | Библиография | Заглавие на русском языке | | | Сведения о регистрации изменения | 470-ст | | Дата регистрации изменения | 12.11.2010 | | Дата введения изменения в действие | 01.04.2011 | | Номер изменения к НД | 1 | | Содержание изменения к НД | Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика поверки State system for ensuring the uniformity of measurements. Scanning electron microscopes. Methods for verification | | Вид изменения | Текстовое изменение; Изменено заглавие | | Прежнее значение измененного ЭД | Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые измерительные. Методика поверки
State system for ensuring the uniformity of measurements. Scanning electron measuring microscopes. Methods for verification | | Количество страниц | 3 | | Опубликовано в | ИУС 2-2011 | | Номер ТК за которым закреплен документ | | | Номер приказа о закреплении документа за ТК | | | Дата приказа о закреплении документа за ТК | | |
| | | | Заглавие на русском языке | Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика поверки | |
| | |
|
|
|
| Цены |
| На русском языке |
Нет
|
|
|
|