| Заглавие на русском языке | |
| Сведения о регистрации изменения | 470-ст |
| Дата регистрации изменения | 12.11.2010 |
| Дата введения изменения в действие | 01.04.2011 |
| Номер изменения к НД | 1 |
| Содержание изменения к НД | Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика поверки State system for ensuring the uniformity of measurements. Scanning electron microscopes. Methods for verification |
| Вид изменения | Текстовое изменение; Изменено заглавие |
| Прежнее значение измененного ЭД | Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые измерительные. Методика поверки
State system for ensuring the uniformity of measurements. Scanning electron measuring microscopes. Methods for verification |
| Количество страниц | 3 |
| Опубликовано в | ИУС 2-2011 |
| Номер ТК за которым закреплен документ | |
| Номер приказа о закреплении документа за ТК | |
| Дата приказа о закреплении документа за ТК | |
 |