 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
GB/T 19444-2004 |  на печать | | Oxygen precipitation characterization of silicon wafers by measurement of interstitial oxygen reduction |
|
| | Библиография | Обозначение | GB/T 19444-2004 | | Заглавие на английском языке | Oxygen precipitation characterization of silicon wafers by measurement of interstitial oxygen reduction | | Дата опубликования | 2004-02-05 | | Дата вступления в силу | 2004-07-01 | | Код МКС | 29.040 | | Степень гармонизации | | | Количество страниц оригинала | 8 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | CCS Code | H26 | |
| | Стандарт GB/T 19444-2004 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
1094,00
|
|
|
|