GB/T 19444-2004
Oxygen precipitation characterization of silicon wafers by measurement of interstitial oxygen reduction
На языке оригинала
Заказать перевод
Библиография
Обозначение
GB/T 19444-2004
Заглавие на английском языке
Oxygen precipitation characterization of silicon wafers by measurement of interstitial oxygen reduction
Дата опубликования
2004-02-05
Дата вступления в силу
2004-07-01
Код МКС
29.040
Степень гармонизации
Количество страниц оригинала
8
Статус
Published
Тип стандарта
voluntary national standard
Язык оригинала
Chinese
Доступные языки
Имя файла
CCS Code
H26
Стандарт GB/T 19444-2004 входит в рубрики классификатора:
ОКС \ ЭЛЕКТРОТЕХНИКА \ Изоляционные жидкости и газы \
Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/7587232.aspx