 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
GB/T 4937.20-2018 |  на печать | | Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat |
|
| | Библиография | Обозначение | GB/T 4937.20-2018 | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat | | Дата опубликования | 2018-09-17 | | Дата вступления в силу | 2019-01-01 | | Код МКС | 31.080.01 | | Разработан на основе | IEC 60749-20:2008 | | Степень гармонизации | IDT | | Количество страниц оригинала | 24 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | CCS Code | L40 | |
| | Стандарт GB/T 4937.20-2018 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
1843,00
|
|
|
|