GB/T 4937.20-2018
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
На языке оригинала
Заказать перевод
Библиография
Обозначение
GB/T 4937.20-2018
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
Дата опубликования
2018-09-17
Дата вступления в силу
2019-01-01
Код МКС
31.080.01
Разработан на основе
IEC 60749-20:2008
Степень гармонизации
IDT
Количество страниц оригинала
24
Статус
Published
Тип стандарта
voluntary national standard
Язык оригинала
Chinese
Доступные языки
Имя файла
CCS Code
L40
Стандарт GB/T 4937.20-2018 входит в рубрики классификатора:
ОКС \ ЭЛЕКТРОНИКА \ Полупроводниковые приборы * Полупроводниковые материалы см. 29.045 \ Полупроводниковые приборы в целом \
Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/7591244.aspx