 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
GB/T 32651-2016 |  на печать | | Test method for measuring trace elements in photovoltaic-grade silicon by high-mass resolution glow discharge mass spectrometry |
|
| | Библиография | Обозначение | GB/T 32651-2016 | | Заглавие на английском языке | Test method for measuring trace elements in photovoltaic-grade silicon by high-mass resolution glow discharge mass spectrometry | | Дата опубликования | 2016-04-25 | | Дата вступления в силу | 2016-11-01 | | Код МКС | 29.045 | | Степень гармонизации | | | Количество страниц оригинала | 16 | | Статус | Published | | Тип стандарта | voluntary national standard | | Язык оригинала | Chinese | | Доступные языки | | | Имя файла | | | CCS Code | H82 | |
| | Стандарт GB/T 32651-2016 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
1786,00
|
|
|
|