GB/T 32651-2016
Test method for measuring trace elements in photovoltaic-grade silicon by high-mass resolution glow discharge mass spectrometry
На языке оригинала
Заказать перевод
Библиография
Обозначение
GB/T 32651-2016
Заглавие на английском языке
Test method for measuring trace elements in photovoltaic-grade silicon by high-mass resolution glow discharge mass spectrometry
Дата опубликования
2016-04-25
Дата вступления в силу
2016-11-01
Код МКС
29.045
Степень гармонизации
Количество страниц оригинала
16
Статус
Published
Тип стандарта
voluntary national standard
Язык оригинала
Chinese
Доступные языки
Имя файла
CCS Code
H82
Стандарт GB/T 32651-2016 входит в рубрики классификатора:
ОКС \ ЭЛЕКТРОТЕХНИКА \ Полупроводниковые материалы \
Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/7771591.aspx