|
 |
|
 |
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск |
|
|
|
|
Уважаемые пользователи!
Полные тексты ОСТ и ТУ есть только в редакции до 1993 года (архивные неактуализированные версии).
Заказ ОСТ через "корзину" сайта осуществляется на документы, у которых проставлена цена, заказ остальных документов отправляйте на e-mail: gost@gostinfo.ru с указанием номера Вашей регистрации.
Полупроводниковые материалы
Фильтр по статусу:
Найдено: 6 документов | Страницы: 1 |
| Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%)
в рублях |
|
|
Структуры кремниевые и арсенид-галлиевые эпитаксиальные. Измерение толщины тонких эпитаксиальных слоев методом ИК-эллипсометрии
|
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
|
Структуры эпитаксиальные и пленки диэлектрические. Метод измерения толщины эпитаксиальных слоев кремния в структурах типа кремний на сапфире (КНС) на основе ИК-интерференции
|
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
|
Структуры кремниевые эпитаксиальные со скрытым слоем. Правила приемки
|
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
|
Монокристаллы ниобата лития и танталата лития и заготовки из них. Методы измерения кристаллографической ориентации
|
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
|
Кремний полупроводниковый. Метод измерения концентрации примесей
|
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
|
|
Система показателей качества продукции. Полупроводниковые материалы. Номенклатура показателей
|
|
|
Неактуализированная версия
|
По запросу. Пишите на gost@gostinfo.ru.
|
|
| Страницы: 1 |
|
отдел распространения документов по стандартизации: e-mail: gost@gostinfo.ru, телефон: 8 (800) 101-92-72
|