ОСТ11-050.068-83 | | | Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Метод контроля дефектов структуры приповерхностных слоев пластин |
|
|
 |
Библиография | Обозначение | ОСТ11-050.068-83 | | Заглавие на русском языке | Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Метод контроля дефектов структуры приповерхностных слоев пластин | | Дата введения в действие (опубликования) | 01.01.1985 | | Код КС (ОКС, МКС) | 31.200 | | Код КГС | Т59 | | Код ОКСТУ | 0011 | | Индекс рубрикатора ГРНТИ | 672317;811407;818117 | | Вид требований | Требования единые гарантирующие конкурентноспособность на мировом рынке | | Количество страниц (оригинала) | 14 | | Примечание | | |
|
|
Стандарт ОСТ11-050.068-83 входит в рубрики классификатора:
| | | | | |
|