Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6265470.aspx

IEC 62047-27(2017)

Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 27. Определение прочности соединения структур со стеклокристаллическим припоем, используя испытания на микрошевроне (MCT)

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеIEC 62047-27(2017)
Заглавие на русском языкеПриборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 27. Определение прочности соединения структур со стеклокристаллическим припоем, используя испытания на микрошевроне (MCT)
Заглавие на английском языкеSemiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 27: Bond strength test for glass frit bonded structures using micro-chevron-tests (MCT)
МКС31.080.99
Вид стандартаST
Дата опубликования20.01.2017
Язык оригиналаанглийский
Количество страниц оригинала20
ТК – разработчик стандарта TC 47/SC 47F
Номер издания1.0
СтатусДействует
Код ценыD

Стандарт IEC 62047-27(2017) входит в рубрики классификатора: