KS C IEC 60749-22 | Электронный магазин стандартов

KS C IEC 60749-22
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 22: Bond strength

	На языке оригинала
	Заказать перевод

Библиография

Обозначение	KS C IEC 60749-22
Международный стандарт	IEC 60749-22:2002(IDT)
Заглавие на английском языке	Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 22: Bond strength
Дата опубликования	2020.07.23
Код МКС	31.080.01

ОКС \ ЭЛЕКТРОНИКА \ Полупроводниковые приборы * Полупроводниковые материалы см. 29.045 \ Полупроводниковые приборы в целом \