| Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%)
в рублях |
|
|
Носимая электроника и технологии. Часть 406-1. Метод измерения температуры поверхности носимых на запястье электронных устройств при контакте с кожей человека
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
13920,00
|
|
|
|
Методы измерения характеристик синего света и связанных с ними оптических характеристик для терминалов визуального отображения
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
13920,00
|
|
|
|
Конденсаторы шунтирующие силовые самовосстанавливающиеся для систем переменного тока с номинальным напряжением выше 1000 В
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
52200,00
|
|
|
|
Дисплеи электронные. Методы испытаний на долговечность. Часть 3-5. Механические испытания. Критическая выносливость поверхностей
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
20010,00
|
|
|
|
Методы испытаний на долговечность материалов для прикрепления кристаллов. Часть 2. Метод циклических испытаний материалов для прикрепления кристаллов, применяемых к силовым электронным приборам дискретного типа
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
26100,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Классификация дефектов в эпитаксиальной пленке из нитрида галлия на карбидокремниевой подложке
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
26100,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Полупроводниковые приборы для беспроводной передачи энергии и зарядки. Часть 1. Общие требования и спецификации
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
40890,00
|
|
|
|
Метод определения механических свойств гибких опто-электрических печатных плат при термическом воздействии
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
26100,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Метод испытаний на надежность карбидокремниевых дискретных полевых МОП-транзисторов. Часть 1. Метод определения температурной нестабильности смещения
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
13920,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Метод испытаний на надежность карбидокремниевых дискретных полевых МОП-транзисторов. Часть 2. Метод определения биполярной деградации из-за работы паразитного диода
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
6960,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Метод испытаний на надежность нитридгаллиевых транзисторов путем переключения индуктивной нагрузки
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
13920,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Общее руководство по оценке надежности полупроводниковых приборов. Часть 1. Руководство по оценке надежности интегральных схем
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
46980,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Руководство по планам оценки надежности полупроводниковых приборов. Часть 2. Концепция профиля миссии
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
13920,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Полупроводниковые приборы для системы Интернета вещей. Часть 1. Метод испытания для обнаружения изменения звука
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
13920,00
|
|
|
|
Руководство по динамическому испытанию на сопротивление устройств преобразования мощности на основе GaN-транзисторов с высокой подвижностью электронов (HEMT)
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
13920,00
|
|
|
|
Размеры электронных ламп. 1-е дополнение
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
13920,00
|
|
|
|
Размеры электронных ламп. 2-е дополнение
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
6960,00
|
|
|
|
Размеры электронных ламп. 3-е дополнение
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
1740,00
|
|
|
|
Размеры электронных ламп. 4-е дополнение
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
3480,00
|
|
|
|
Размеры электронных ламп. 5-е дополнение
|
Действует |
|
На языке оригинала
|
6960,00
|
|
| Страницы: ... / 121 / 122 / 123 / 124 / 125 / 126 / 127 / 128 / 129 / 130 / 131 / 132 / 133 / 134 ... / 145 |