| Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%)
в рублях |
|
|
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) (IEC 60749-4:2017) (german version)
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 60749-5:2017) (german version)
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 60749-5:2017) (english version)
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 6: Storage at high temperature (IEC 60749-6:2017) (english version)
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 6: Storage at high temperature (IEC 60749-6:2017) (german version)
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 9: Permanence of marking (IEC 60749-9:2017) (german version)
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 9: Permanence of marking (IEC 60749-9:2017) (english version)
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level (IEC 60749-28:2017) (german version)
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level (IEC 60749-28:2017) (english version)
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans (IEC 60749-43:2017) (german version)
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans (IEC 60749-43:2017) (english version)
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices ( IEC 60749-44:2016) (german version)
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices ( IEC 60749-44:2016) (english version)
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Synthetic quartz crystal - Specifications and guidelines for use ( IEC 60758:2016) (german version)
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Synthetic quartz crystal - Specifications and guidelines for use ( IEC 60758:2016) (english version)
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Установки пассивных фильтров для подавления электромагнитных помех. Часть 3. Установки пассивных фильтров, которые подвергаются испытаниям на безопасность
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Установки пассивных фильтров для подавления электромагнитных помех. Часть 3. Установки пассивных фильтров, которые подвергаются испытаниям на безопасность
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Passive filter units for electromagnetic interference suppression -- Part 3: Passive filter units for which safety tests are appropriate (IEC 60939-3:2015/COR2:2018) (Corrigendum) (english version)
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Passive filter units for electromagnetic interference suppression -- Part 3: Passive filter units for which safety tests are appropriate (IEC 60939-3:2015/COR2:2018) (Corrigendum) (german version)
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Connectors for electronic equipment - Product requirements - Part 1: Generic specification (IEC 61076-1:2006 + A1:2019) (english version)
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
| Страницы: 1 / 2 / 3 / 4 / 5 / 6 / 7 / 8 / 9 / 10 / 11 / 12 ... / 50 |