|
 |
|
 |
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск |
|
|
|
|
Стандарты ONORM защищены авторским правом. Федеральное государственное бюджетное учреждение «Российский институт стандартизации» имеет Соглашение с Австрийским институтом стандартом (ASI) о распространении и воспроизведении стандартов ONORM на территории РФ.
Заказчику предоставляется 1 копия стандарта на языке оригинала и/или 1 копия перевода для 1 (одного) пользователя на 1 (одно) рабочее место. Копировать документ, распространять, помещать его в места общего доступа, в архивные и другие электронные системы строго запрещено. Несоблюдение данного требования строго контролируется как правообладателем, так и дистрибьюторами.
В том случае, если документы будут использоваться на нескольких рабочих местах, необходимо приобретение сетевой лицензии на несколько пользователей
Для приобретения сетевой лицензии обращайтесь в отдел распространения документов по стандартизации по адресу: gost@gostinfo.ru с указанием номера Вашей регистрации (№ клиента) на сайте.
Международные и зарубежные стандарты заказать возможно, направляйте заявку в отдел распространения документов по стандартизации на адрес gost@gostinfo.ru
Полупроводниковые приборы в целом
Фильтр по статусу:
Найдено: 116 документов | Страницы: 1 / 2 / 3 / 4 / 5 / 6 |
Заказ можно оформить только на действующие документы, у которых проставлена цена.Счет действителен к оплате в течение 10 рабочих дней.
| Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%)
в рублях |
|
|
Полупроводниковые устройства. Методы механических и климатических испытаний. Часть 40. Метод испытания уровня падения табло с применением тензометра
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Полупроводниковые устройства. Методы механических и климатических испытаний. Часть 40. Метод испытания уровня падения табло с применением тензометра
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы климатических и механических испытаний. Часть 42. Хранение при высокой температуре и влажности
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Приборы полупроводниковые. Методы климатических и механических испытаний. Часть 42. Хранение при высокой температуре и влажности
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на пробой диэлектрика в зависимости от времени (TDDB) для интерметаллических слоев
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на пробой диэлектрика в зависимости от времени (TDDB) для интерметаллических слоев
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Испытание на пробой диэлектрика в зависимости от времени (TDDB) для управляющих диэлектрических пленок
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Испытание на электромиграцию постоянного тока
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Испытание на электромиграцию постоянного тока
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Испытание с барьером Шоттки на транзисторах MOS
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Испытание с барьером Шоттки на транзисторах MOS
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Испытания с подвижным ионом для полупроводниковых транзисторов с полевым эффектом металл-оксид
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Испытания с подвижным ионом для полупроводниковых транзисторов с полевым эффектом металл-оксид
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Определение объема пустот при металлизации
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Определение объема пустот при металлизации
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Полупроводниковые устройства. Методы механических и климатических испытаний
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
| Страницы: 1 / 2 / 3 / 4 / 5 / 6 |
|
отдел распространения документов по стандартизации: e-mail: gost@gostinfo.ru, телефон: 8 (800) 101-92-72
|