| Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%)
в рублях |
|
|
Органические светоизлучающие дисплеи на диодах. Часть 6-1. Методы измерения оптических и электро-оптических параметров
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Органические светоизлучающие дисплеи на диодах (OLED). Часть 6-2. Методы измерения визуальных свойств и свойств окружения
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Органические светоизлучающие дисплеи на диодах (OLED). Часть 6-2. Методы измерения визуальных свойств и свойств окружения
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Органические светоизлучающие дисплеи на диодах (OLED). Часть 6-3. Методы измерения качества изображений
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Органические светоизлучающие дисплеи на диодах (OLED). Часть 6-3. Методы измерения качества изображений
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Транзисторы со структурой металл-оксид, полупроводниковые, полевые. Испытание стабильности при отклонении температуры
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на пробой диэлектрика в зависимости от времени (TDDB) для интерметаллических слоев
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на пробой диэлектрика в зависимости от времени (TDDB) для интерметаллических слоев
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Испытание на пробой диэлектрика в зависимости от времени (TDDB) для управляющих диэлектрических пленок
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Конденсаторы двухслойные постоянной емкости, используемые в электронном оборудование. Часть 2-1. Типовая форма частных технических условий. Конденсаторы двухслойные для силового применения. Уровень оценки EZ
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Конденсаторы двухслойные постоянной емкости, используемые в электронном оборудование. Часть 2. Групповые технические условия. Конденсаторы двухслойные для силового применения
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Испытание на электромиграцию постоянного тока
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Испытание на электромиграцию постоянного тока
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Испытание с барьером Шоттки на транзисторах MOS
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Испытание с барьером Шоттки на транзисторах MOS
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Испытания с подвижным ионом для полупроводниковых транзисторов с полевым эффектом металл-оксид
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Испытания с подвижным ионом для полупроводниковых транзисторов с полевым эффектом металл-оксид
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Определение объема пустот при металлизации
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
|
|
Полупроводниковые приборы. Определение объема пустот при металлизации
|
|
|
На английском языке
|
0,00
|
|
|
|
Технология электронной сборки. Электронные модули
|
|
|
На немецком языке
|
0,00
|
|
| Страницы: ... / 41 / 42 / 43 / 44 / 45 / 46 / 47 / 48 / 49 / 50 |